Archivos del Consejo Nacional de Innovación

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Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos y sus aplicaciones

Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos y sus aplicaciones

Infante. M
M. Delgado
Y. Ortega
D. Pérez
J. Blanco
Y. Pavón
J. Díaz